Halbleiterindustie-Applikationen für Sensoren

Applikationen mit begrenztem Montageplatz

Erkennung von Wafern (Reflexionslichtschranke)  

Eintreffen des FOUP wird geprüft  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Wafer
  • Anwesenheit
  • EX-10

Wafer-Erkennung  

Erkennung des Flüssigkeitsfüllstands in Tanks  

  • Halbleiter / Flüssigkristall, Biotechnologie
  • Flüssigkeitsfüllstand
  • Pegelabtastung
  • Lichtleiter

Anzahl der Beinchen eines Chips prüfen  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • IC-Pins
  • Anwesenheit
  • Lichtleiter

Prüfung der Waferposition  

Lebensdauer eines Wafer-Sägeblatts prüfen  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Wafersäge
  • Untersuchung und Messung
  • GP-X

Leck-Erkennung in der Halbleiterproduktion  

  • Halbleiter / Flüssigkristall, Biotechnologie
  • Leck-Erkennung
  • Pegelabtastung
  • EX-F70 / EX-F60

Prüfen von Mapping, Ausrichtung und Position von Glassubstrat  

  • Halbleiter / Flüssigkristall, Glas
  • Glassubstrat
  • Erkennung von transparenten Objekten
  • Lichtleiter

Erkennung von transparentem Schutzfilm für TAB  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Transparenter Film
  • Erkennung von transparenten Objekten
  • CX400

Erkennung eines Wafers für eine Photovoltaikzelle  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Wafer
  • Anwesenheit
  • LS-400

Erkennung des Flüssigkeitsfüllstands in Glasröhrchen  

  • Halbleiter / Flüssigkristall, Glas
  • Glasröhrchen
  • Pegelabtastung
  • LS-400

Erkennung von Glassubstrat in Unterdruckkammern  

  • Halbleiter / Flüssigkristall, Glas
  • Glassubstrat
  • Erkennung von transparenten Objekten
  • Lichtleiter

Erkennung von Trägerstreifen  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Trägerstreifen
  • Anwesenheit
  • LS-400

Ansaugdruckkontrolle von Wafern  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Wafer
  • Anwesenheit
  • DP-100

Flüssigkeitsfüllstandsensor für Rohrmontage  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Rohr
  • Pegelabtastung
  • Lichtleiter

Erkennung von Wafern  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Wafer
  • Anwesenheit
  • LS-400

Überwachung der Kunststoffhöhe  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Lead-Frame
  • Untersuchung und Messung
  • HG-C

Wafer in korrosiver Umgebung detektieren  

Andere Lösungen

Prüfung der Waferposition  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Wafer
  • Positionierung
  • HL-C2

Neutralisierung beim Formen  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Lead-Frame
  • Vermeiden einer elektrostatischen Aufladung
  • ER-VW

Entfernen von elektrostatischer Aufladung beim Anheben von Glasscheiben  

  • Halbleiter / Flüssigkristall, Glas
  • Glas
  • Vermeiden einer elektrostatischen Aufladung
  • ER-X

Entfernen elektrostatischer Aufladung beim Stapeln von IC-Trays  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Stapeln von IC-Trays
  • Vermeiden einer elektrostatischen Aufladung
  • ER-VW

Leckerkennung  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Leck-Erkennung
  • Pegelabtastung
  • SQ4

Positionen von gemustertem Glas messen  

  • Halbleiter / Flüssigkristall, Glas
  • Glas
  • Untersuchung und Messung
  • HL-C2

Entfernen von elektrostatischer Aufladung beim Be- und Entladen  

  • Halbleiter / Flüssigkristall, Glas
  • Wafer
  • Vermeiden einer elektrostatischen Aufladung
  • ER-X

Entfernen von elektrostatischer Aufladung beim Abziehen von Schutzfolien  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Schutzfilm
  • Vermeiden einer elektrostatischen Aufladung
  • ER-X

Neutralisierung beim Entnehmen der Chips  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Trennschleifen, Wafer
  • Vermeiden einer elektrostatischen Aufladung
  • ER-VW

Spülgas- und Luftflusskontrolle  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Stickstoff
  • Untersuchung und Messung
  • FM-200

Erkennung von defekten Lead-Frames  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Lead-Frame
  • Untersuchung und Messung
  • HL-T1

Entfernung von Staub beim Abziehen des TAB-Schutzfilms  

  • Halbleiter / Flüssigkristall, Glas
  • Film
  • Vermeiden einer elektrostatischen Aufladung
  • ER-X

Entfernen elektrostatischer Aufladung beim Abziehen von Rückseitenschleiffolie  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Trennung von Wafern und Schleiffolie
  • Vermeiden einer elektrostatischen Aufladung
  • ER-VW

Neutralisieren von Lead-Frames auf benachbarten Förderbändern  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Lead-Frame
  • Vermeiden einer elektrostatischen Aufladung
  • ER-VW

Erkennung der Exzentrizität oder der Einkerbung eines Wafers  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Waferkerbe
  • Untersuchung und Messung
  • HD-T1

Erkennung der Waferposition in einem Waferträger  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Wafer
  • Anwesenheit
  • HL-T1

Fremdkörper beim Aufbringen von Filmen und Folien  

  • Halbleiter / Flüssigkristall, Glas
  • Film
  • Vermeiden einer elektrostatischen Aufladung
  • ER-X

Messen des Oberflächenpotenzials und Neutralisierung während der Chipentnahme  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Wafer-Chip
  • Vermeiden einer elektrostatischen Aufladung
  • ER-VW

Verhindern von Schäden durch Elektrostatik beim Kleben  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • IC-Chips
  • Vermeiden einer elektrostatischen Aufladung
  • ER-V

Wafermapping innerhalb eines FOUP (Reflexions-Lichttaster)  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Wafer
  • Anwesenheit
  • MDW1

Zutrittserkennung im Arbeitsbereich von Produktionsmaschinen  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Produktion
  • Schutzvorrichtung
  • SF4B-C

Entfernen von elektrostatischer Aufladung beim Transport von gläsernen Leiterplatten  

  • Halbleiter / Flüssigkristall, Glas
  • Gläserne Leiterplatte
  • Vermeiden einer elektrostatischen Aufladung
  • ER-X

Messung des Oberflächenpotenzials beim Be- und Entladen  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Wafer
  • Vermeiden einer elektrostatischen Aufladung
  • ER-VW

Starten und Stoppen von Maschinen  

  • Halbleiter / Flüssigkristall
  • Wartung
  • Schutzvorrichtung
  • SG-E1