Měřicí senzor HL-C2

Spojením našeho shromážděného know-how v technologii měření s nejnovější digitální technologií jsme vytvořili univerzální laserový senzor posunu HL-C2, nejlepší senzor ve své třídě. Senzor HL-C2 funguje stabilně a konzistentně i pro extrémně náročné aplikace, jako je měření odchylek na povrchu pevného disku nebo snímání velmi lesklých předmětů. Díky použití našeho jedinečného nového optického systému, článků s vysokou hustotou světelné přijímací jednotky a špičkové technologie sběru vzorků lze nyní s větší přesností a rychlostí měřit širokou škálu objektů.

Charakteristiky:

• Rozlišení až 0,01 μm bez ohledu na vzorkovací frekvenci
• Vzorkovací frekvence až 100 kHz
• Neovlivnění barvou povrchu nebo stavem povrchu objektu
• Typ s malým paprskem: Ø 20 μm až ø 400 μm/typ s lineárním paprskem: 20x700 μm až 400x6500 μm
• Chyba linearity, max. ± 0,02 % F.S.
• Kompaktní design
• Rozsah snímání od 10 mm ± 1 mm do 350 ± 200 mm

Možnosti:

• Prodlužovací kabel (2 / 5 / 10 / 20 / 30 m)
• Neutrální filtr hustoty

Kompaktní a multifunkční řídicí jednotka HL-C2C opět ukazuje, jak výkonná je tato nová řada senzorů. Flexibilní kombinace řídicích jednotek a hlavic senzorů umožňuje nákladově efektivní servis a údržbu. Řídicí jednotka může použít měření provedená dvěma senzory k okamžitému výpočtu kritických hodnot. Kompaktní dotykový panel, který je velmi snadno ovladatelný, může následně zobrazit takové kritické hodnoty nebo jej použít v kombinaci s řídicí jednotkou k výpočtu výsledků, např. pro měření tloušťky nebo rozdílu. Všechny úpravy a výsledky lze navíc přenášet přes rozhraní USB 2.0, RS232C nebo Ethernet do běžného počítače.

Charakteristiky:

• 32bitový RISC procesor
• Volitelný analogový proudový nebo napěťový výstup
• Jednoduchá konfigurace prostřednictvím dotykového terminálu
• Až dvě laserové hlavice na řídicí jednotku
• Nastavitelný nulový bod a posun
• Integrované funkce výpočtu
• RS232C
• USB 2,0

Možnosti:

• Kompaktní konzole (dotykový terminál) HL-C2DP-EX
• Software HL-C2AiM pro nastavení senzorů a monitorování naměřených hodnot